二極管二次篩選項(xiàng)目及要求

江蘇粵科檢測是專業(yè)第三方電子元器件二次篩選機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室具備電子元器件GJB篩選檢測資質(zhì)和檢測能力，可提供電阻、電容、敏感器件、濾波器、電連接器、分立器件等電子元器件二次篩選服務(wù)，接下來為大家介紹二極管二次篩選項(xiàng)目及要求。

二極管二次篩選項(xiàng)目及要求

       1. 編序列號

    要求：當(dāng)要求計(jì)算器件電參數(shù)的△值時(shí)應(yīng)編序列號。

2. 電參數(shù)測試(室溫)

    測量參數(shù)：VF、VR 或 IR、VF、IZ、IR；

    要求：測量參數(shù)及合格標(biāo)準(zhǔn)按詳細(xì)規(guī)范或產(chǎn)品手冊規(guī)定。

3. 溫度循環(huán)

    篩選條件：GJB128A 1051方法 條件B：循環(huán) 5 次；

    要求：玻封器件轉(zhuǎn)換時(shí)間為不大于 5min。

4. 恒定加速度

    篩選條件：GJB128A 2006方法 Y1 方向、196000m/s2；IF ≥10A 的器件 98000m/s2；

    要求：無空腔的器件不要求，LTPD=5；不通過時(shí)全檢。

5. 外觀及機(jī)械檢查

    篩選條件：GJB128A 2071方法 用 10 倍放大鏡或顯微鏡；

    要求：可在篩選開始時(shí)增加一次。

6. 粒子碰撞噪聲檢測(PIND)

    篩選條件：GJB128A 2052方法 試驗(yàn)條件：A；

    要求：LTPD 二 10；不通過時(shí)全檢。

7. 高溫反偏(HTRB) 僅適用于開關(guān)二極管

    篩選條件：GJB128A 1038方法 反偏溫度：125±2℃，反偏電壓：0.75VR，96h/72h/48h；

    要求：高溫反偏時(shí)間為表列時(shí)間減去生產(chǎn)方已進(jìn)行的高溫反偏時(shí)間，但不得少于24h。

8. 老練前電參數(shù)測試 (室溫)

    測量參數(shù)：同序號 2。

9. 老練(室溫)

    篩選條件：GJB128A 1038方法 試驗(yàn)條件：B，240h/160h/96h；

    要求：老練時(shí)間為表列時(shí)間減去生產(chǎn)方已進(jìn)行的老練時(shí)間，但不得少于48h。

10. 老練后電參數(shù)測試(室溫)

    測量參數(shù)：同序號 2，對合同或詳細(xì)規(guī)范要求的參數(shù)計(jì)算其Δ值計(jì)算不合格品率。

    要求：Ⅰ級 PDA≤5%(或 1 只取大值)； Ⅱ級 PDA≤10%(或 1 只取大值)；Ⅲ級 PDA≤15%(或 1 只取大值)。

11. 電參數(shù)測試(高溫)

    測量參數(shù)：同序號 2：溫度按合同或詳細(xì)規(guī)范規(guī)定；

    要求：LTPD＝10；不通過時(shí)全檢。

12. 電參數(shù)測試(低溫)

    測量參數(shù)：同序號 2：溫度按合同或詳細(xì)規(guī)范規(guī)定；

    要求：LTPD＝10；不通過時(shí)全檢。

13. 密封(細(xì)檢漏/粗檢漏)

    篩選條件：GJB128A 1071方法 a.試驗(yàn)條件：G 或 H，b.試驗(yàn)條件：A、 C、或 F；

    要求：無空腔的器件不要求，內(nèi)腔體積大于 1cm3 僅要求做粗檢漏。

14. 外觀及機(jī)械檢查

    篩選條件：GJB128A 2071方法 用 10 倍放大鏡或顯微鏡。

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配備各種規(guī)格的集成電路測試系統(tǒng)，老煉箱50余臺、各類環(huán)境箱體20臺套、機(jī)械性能與可靠性檢測設(shè)備30臺套、半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)、模擬器件測試系統(tǒng)、檢漏系統(tǒng)、PIND顆粒碰撞檢測設(shè)備等。

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依據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格，準(zhǔn)確制定元器件的篩選方案和規(guī)程\依據(jù)篩選結(jié)果，準(zhǔn)確定位元器件失效機(jī)理，并依據(jù)客戶需求給出元器件失效分析方案。

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軍用級檢測體系控制+軍方實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可檢測設(shè)備，保證測試流程和測試精度，第三方公正檢測機(jī)構(gòu)。

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